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粉末平均粒度测定仪的这些知识值得我们学习
粉末平均粒度测定仪又称为激光粒度仪,它利用了杨氏功率谱法(即Mie散射方法)的原理。这种方法首先由德国物理学家G.Mie在1908年提出。该方法是通过测量粒子在一个向外扩散的光束中相对的光强度而进行的。当一个单色激光入射到包含粉体的样品池中时,被照射粉末的颗?;岱⑸⑸湎窒?,且每个颗粒都有所不同的方向和强度。检测仪器会记录下粉末中不同角度散射光线的强度分布情况。根据不同粒径粒子对散射的强度分布的影响,可以计算得到样品中颗粒的平均粒径大小。粉末平均粒度测定仪功能特点:1、可以测...
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2023-04-14
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WLP-208平均粒度仪的一些具体应用
WLP-208平均粒度仪是一种用于测量颗粒大小分布的仪器。它可以用于各种颗粒材料,如粉末、颗粒、颗粒状物质、液滴、气溶胶和悬浮液等?;诠馍⑸浜图す舛啻紊⑸?。当激光束通过样品时,光线会被颗粒散射,形成散射光。散射光的强度和颗粒的大小、形状、折射率和浓度等因素有关。通过测量散射光的强度和角度,可以计算出颗粒的平均粒径和粒径分布。WLP-208平均粒度仪的一些具体应用:1.用于检测药物微粒的大小和分布,以确保药品的效果和稳定性。2.用于测量颜料、涂料、粉末和乳液等的颗粒大小和分布...
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2023-03-27
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平均粒度测定仪测试条件的差异将影响粒度测试的结果
平均粒度测定仪是用空气透过原理研制的快速测定粉末颗粒平均粒径的仪器,通称费氏仪(Fsss)又称费氏超细筛。是磁性材料、粉末冶金、难熔金属、特种陶瓷、钨钼材料、硬质合金、有色金属、非金属、化工、建材功能材料及粉末研究和生产不可少的检测手段。平均粒度测定仪测试条件的差异将影响粒度测试的结果:在实际激光粒度仪测试过程中,存在例如取样代表性、仪器对中调节、光学参数及样品循环参数设定,分散介质、分散剂、稳定剂的选择和质量,样品处理步骤等多种人为因素,以及温度变化,电源稳定性,震动等客观...
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2023-02-13
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